Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем/Глудкин, Олег Павлович.

 

QR-код документа

Оценок: 0

6П2.15
Г55

Глудкин, Олег Павлович.
    Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : [учебное пособие для приборостроит. спец. вузов] / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - Москва : Энергия, 1980. - 360 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 355 (19 назв.). - Предм. указ.: с. 356-357. - 20000 экз. - Б. ц.
ББК 6П2.151(075.3) + 6Ф2.1-08(075.3)

Рубрики: Радиоэлектронная аппаратура на интегральных микросхемах--Испытание--Учебники и пособия

Держатели документа:
Национальная библиотека им. А. С. Пушкина, г. Саранск

Похожие издания по классификации