
QR-код документа
>
А46
Александров, Леонид Наумович.
Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках / Л. Н. Александров, М. И. Зотов ; Отв. ред. Л. С. Смирнов. - Новосибирск : Наука. Сиб. отделение, 1979. - 159 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 149-158 (188 назв. ). - 2500 экз. - Б. ц.
В надзаг.: АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников
Рубрики: Полупроводники--Трение внутреннее.
Полупроводники--Дефекты
Держатели документа:
Национальная библиотека им. А. С. Пушкина, г. Саранск
Доп.точки доступа:
Зотов, Михаил Иванович
Похожие издания по классификации