Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках/Александров, Леонид Наумович.

 

QR-код документа

Оценок: 0

537.42
А46

Александров, Леонид Наумович.
    Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках / Л. Н. Александров, М. И. Зотов ; Отв. ред. Л. С. Смирнов. - Новосибирск : Наука. Сиб. отделение, 1979. - 159 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 149-158 (188 назв. ). - 2500 экз. - Б. ц.
В надзаг.: АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников
ББК 537.42

Рубрики: Полупроводники--Трение внутреннее.

   Полупроводники--Дефекты

Держатели документа:
Национальная библиотека им. А. С. Пушкина, г. Саранск
Доп.точки доступа:
Зотов, Михаил Иванович

Похожие издания по классификации