QR-код документа
Р 24
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2-х книгах. Кн. 1 / Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюберн, П. Эчлин и др. ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984. - 303 с. : ил. - Б. ц.
Авт. указаны на обороте тит. л
Перевод заглавия: Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis / Joseoh I. Goldsteein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin et al. - New york and London, 1981
| ГРНТИ | 29.19 |
Рубрики: Электронная микроскопия--Рентгеноспектральный анализ--Рентгеноструктурный анализ
Держатели документа:
Национальная библиотека им. А. С. Пушкина, г. Саранск
Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Дж.
Ньюбери, Д.
Джой, Д.
Эчлин, П.
Фиори, Ч.
Лифшин, Э.
Гвоздовер, Р. С. \пер.\
Комолова, Л. Ф. \пер.\
Петрова, В. И. (канд. физико-матем. наук) \ред., авт. предисл.\
Похожие издания по классификации