QR-код документа
Ф 37
Фелдман, Леонард.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Дж. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркаддддьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 342 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 333-336. - 4050 экз. - ISBN 5-03-001017-3 (в пер.) : Б. ц.
Рубрики: Поверхностные слои--Ядерно-физический анализ
Пленки тонкие--Ядерно-физический анализ
Держатели документа:
Национальная библиотека им. А. С. Пушкина, г. Саранск
Доп.точки доступа:
Майер, Джеймс
Аркадьев, В. А. \пер.\
Огнев, Л. И. \пер.\
Белошицкий, В. В. \ред.\
Похожие издания по классификации