Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения/Спенс, Джон.

Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения/Спенс, Джон.

https://elib.natlibraryrm.ru/lib/document/svod/791C6E99-CEC2-4540-8E7D-986477A9E8EC/

22.37
С 71
Спенс, Джон.
    Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Пер. с англ. - Москва : Наука, 1986. - 319, [1] с. : ил. ; 23 см. - Библиогр.: с. 313-320. - 2600 экз. - Б. ц.
ББК 22.37

Рубрики: Электронная микроскопия

Держатели документа:
Национальная библиотека им. А. С. Пушкина, г. Саранск
Доп.точки доступа:
Рожанский, В. Н. \ред.\

QR-код документа