QR-код документа
Л 17
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках / отв. ред. А. А. Маненков. - Москва : Наука, 1986. - 152 с. : ил. - (Труды ИОФАН / АН СССР, Ин-т общ. физики ; т. 4). - Библиогр. в конце ст. - 1450 экз. - Б. ц.
Держатели документа:
Национальная библиотека им. А. С. Пушкина, г. Саранск Доп.точки доступа:
Маненков, А. А. \ред.\
Похожие издания по классификации