QR-код документа
А64
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / [Сих М. П., Бриггс Д., Ривьер Дж. К. и др.] ; Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха. - Москва : Мир, 1987. - 598 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр. в конце глав. - Указ. имен., хим. соединений, предм.: с. 581-592. - 3800 экз. - Б. ц.
Авт. указаны на обороте тит. л. Перевод. изд.: Practical sufrace analysis by auger- and X-ray photoelectron spectroscopy (Chichester etc., 1983)
Рубрики: Поверхностные явления--Спектроскопические исследования.
Оже-спектроскопия.
Спектроскопия рентгеноэлектронная
Держатели документа:
Национальная библиотека им. А. С. Пушкина, г. Саранск
Доп.точки доступа:
Бриггс, Д. \ред.\
Раховский, Вадим Израилевич \ред.\
Похожие издания по классификации