QR-код документа
В12
Вавилов, Виктор Сергеевич.
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках / В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова. - Москва : Наука, 1981. - 368 с. : ил. ; 20 см. - (Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиПП). - Библиогр.: с. 332-360, 367-368 (30 назв. ). - Б. ц.
Рубрики: Полупроводники--Дефекты.
Держатели документа:
Национальная библиотека им. А. С. Пушкина, г. Саранск
Доп.точки доступа:
Кив, Арик Ефимович
Ниязова, Озод Рахимовна
Похожие издания по классификации